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Subject: 2214.02 Metrología Year: 2017

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Title: Estudio longitudinal aplicado a la metrología en pipetas electrónicas y/o digitales utilizadas en laboratorios del INS
Author: Peralta Puentes, Alejandro / Rojas Morales, Jenny Marcela
Language: Español
Repository: 71
Subject: Laboratorios / Análisis de perfiles / Estudios longitudinales / Error sistemático / Estadística aplicada / Metrología

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Title: Experimental micrometer-displacement measurements based on optical vortices / Medidas experimentales de desplazamientos micrométricos basadas en vórtices ópticos
Author: Londoño, N. / Rueda, E. / Gómez, J. A. / Amaya Robayo, Dafne Cecilia / Lencina, Alberto
Language: Inglés
Repository: 37
Subject: Física / Metrology / Micro-displacement / Optical Vortices / Vórtices ópticos / Metrología / Micro desplazamientos

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Title: Fundamentos de metrología, tolerancias y ajustes en fabricación mecánica
Author: López Rodríguez, Joaquín
Language: Español
Repository: 72
Subject: Metrología / Fabricación / Calibración / Tolerancias dimensionales / Acabado superficial / Verificación y montaje / Ingeniería de los Procesos de Fabricación / 5312.08 Fabricación / 2214.04 Calibración de Unidades

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