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Subject: interferometría Year: 2020 Year: 2017 Repository: 54

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Title: Desarrollo de un equipo basado en un interferómetro de baja coherencia para medición de topografía y tomografía de materiales
Author: Sallese, Marcelo / Tabla, Pablo / Cerrotta, Santiago / Morel, Eneas / Torga, Jorge
Language: Español
Repository: 54
Subject: ensayo no destructivo / caracterización de materiales / interferometría

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Title: Determinación del llenado capilar en silicio poroso mediante interferometría de baja coherencia
Author: Sallese, Marcelo / Morel, Eneas / Cencha, Luisa / Budini, Nicolás / Urteaga, Raúl / Torga, Jorge
Language: Español
Repository: 54
Subject: Estructuras nanoporosas / silicio / nanoestructurado / interferometría / óptico / capilar / espectrómetro

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