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Repository: 54 Year: 2020 Year: 2016 Document Type: Conferencia Language: Español

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Title: Determinación de deformaciones, tensiones y desplazamientos en la enseñanza de resistencia de materiales.
Author: Raffo, Javier / Carrizo, Marcos
Language: Español
Repository: 54
Subject: UTN / FRD / ENSEÑANZA / RESISTENCIA DE MATERIALES / MEDICIONES / ELEMENTOS FINITOS / MÉTODO ANALÍTICO

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Title: Interferometría óptica de baja coherencia para caracterización dimensional de microestructuras
Author: Sallese, Marcelo / Torga, Jorge / Tabla, Pablo / Morel, Eneas
Language: Español
Repository: 54
Subject: topografía / tomografía / interferometría de baja coherencia / láser / microfluídica / estudio de materiales

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Title: Microscopía óptica coherente por interferometría de baja coherencia de una sola rama aplicada a la caracterización de topografía de superficies
Author: Sallese, Marcelo / Torga, Jorge / Tabla, Pablo / Morel, Eneas
Language: Español
Repository: 54
Subject: topografía / tomografía / Microscopía / interferometría de baja coherencia / láser / estudio de materiales

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Title: Topografía de superficies obtenida por interferometría de baja coherencia de alta resolución espacial
Author: Sallese, Marcelo / Torga, Jorge / Tabla, Pablo / Morel, Eneas
Language: Español
Repository: 54
Subject: interferometría / topografía / tomografía

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Title: Estudio de detección de fisuras en vigas con un apoyo intermedio
Author: Raffo, Javier Leandro / Carrizo, Marcos
Language: Español
Repository: 54
Subject: UTN / FRD / Detección de fisuras / Vigas con fisuras / Vibraciones / Problema inverso / Solución analítica / Método estadístico

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