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Title: Método analítico de detección de fisuras en vigas vibrantesAuthor: Raffo, Javier / Carrizo, MarcosLanguage: EspañolRepository: 54Subject: FRD / UTN / Vibraciones de vigas / Detección de fisuras / Frecuencias naturales / Análisis de sensibilidad
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Title: Inclination shift signal: thickness or index measurement in transparent media by transmission of generally astigmatic Gaussian beamsAuthor: Aguilar, Andres / Torga, JorgeLanguage: InglésRepository: 54Subject: General astigmatism / Thickness measurement / Index measurement / Low-cost / UTN / FRD
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Title: Diseño y construcción de un banco de ensayos para mejorar la enseñanza de las materias estabilidad I y II de la carrera de ingeniería mecánica de la Facultad Regional Delta -UTNAuthor: Raffo, Javier / Carrizo, MarcosLanguage: EspañolRepository: 54Subject: DISEÑO / UTN / FRD / BANCO DE ENSAYO / ENSEÑANZA / RESISTENCIA DE MATERIALES / CONSTRUCCIÓN
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Title: Vibraciones de vigas y pórticos ante la presencia de fisuras. Implementación del problema inversoAuthor: Raffo, Javier / Carrizo, MarcosLanguage: EspañolRepository: 54Subject: Detección de fisuras / vibraciones / problema inverso / solución analítica / elementos finitos / mediciones experimentales / UTN / FRD
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Title: Resultados numéricos y experimentales para el análisis de vibraciones libres en una placa rectangular delgadaAuthor: Carrizo, Marcos / Raffo, Javier / Morel, Eneas / Torga, JorgeLanguage: EspañolRepository: 54Subject: UTN / FRD / Vibraciones / Teoría clásica de placas / Métodos variacionales / Interferometría / Acelerometros
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Title: Molecular rotational diusion detected by dierential fluorescence energyAuthor: Torga, Jorge / Marconi, Mario / Negri, Martin / Aramendia, PedroLanguage: InglésRepository: 54Subject: UTN / FRD / molecular rotational / fluorescence signal / ellipsoidal molecules / fluorescence energy
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Title: Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signalAuthor: Aguilar, Andrés / Torga, JorgeLanguage: InglésRepository: 54Subject: UTN / FRD / Focus-Error-Signal / Astigmatic / Thickness / Beam profilometer / Multiple spots
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Title: Wide band interferometryforthicknessmeasurementAuthor: Constantino, Santiago / Martínez, Oscar / Torga, JorgeLanguage: InglésRepository: 54Subject: UTN / FRD / Wide Band Interferometry / White-light Interferometry / Thicknessmeasurement
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Title: Fast scanner with position monitor forlargeopticaldelaysAuthor: Constantino, Santiago / Martínez, Oscar / Torga, Jorge / Do Campo, P. / Libertiun, A.R.Language: InglésRepository: 54
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Title: Dynamic Detection of Thicknesses in Polymer Deformation Based on the Optical Coherence Interferometry TechniqueAuthor: Morel, Eneas / Torga, JorgeLanguage: InglésRepository: 54Subject: UTN / FRD / Interferometries / Topography / Profilometry / Fast Fourier transform.
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